基本信息
标准名称: | 钨的光谱分析方法 |
英文名称: | Method for defermination of Tungsten by spectrometry |
中标分类: | 综合 >> 标准化管理与一般规定 >> 技术管理 |
替代情况: | SJ/Z 1319-1978 |
发布部门: | 中华人民共和国电子工业部 |
发布日期: | 1986-01-21 |
实施日期: | 1986-10-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
归口单位: | 电子工业部标准化研究所 |
起草单位: | 电子工业部744厂 |
起草人: | 藏明堂、王淑敏 |
出版社: | 电子工业出版社 |
出版日期: | 1986-09-01 |
页数: | 7页 |
适用范围
本标准适用于电子器件、电光源用钨材(粉、坏、杆、丝、带)、三氧化钨(不含添加剂)、钨酸及仲钨酸铵中硅、铝、铁、钙、钴、镍、锰、铅、锡、钼、钛、锑、镉、砷、铜、铬等元素的测定。
前言
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所属分类: 综合 标准化管理与一般规定 技术管理